IC卡動態(tài)彎扭試驗機產品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
全新升級版卡片彎曲扭曲測試儀由衡翼儀器研制*,該測試儀工位為15工位,其中5工位為長邊彎曲,5工位為短邊彎曲,5工位為扭曲試驗。將計數(shù)次數(shù)增加到9999次,計數(shù)方法采用非接處光電計數(shù)(傳統(tǒng)采用開關量計數(shù)),將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。
IC卡動態(tài)彎扭試驗機參數(shù)規(guī)格
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊*位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊*小位移量為2mm±0.50mm,
短邊*位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊*小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸完全按照*標準執(zhí)行。
外形尺寸:L670 X W380 X H220
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W